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T 350S镀层测厚仪

T350S 是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析,同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。

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T 350S镀层测厚仪

下照式带移动平台

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l高精度 XY 样品台

l十字线自动调整

l可选择 X 射线管

l超大 / 开放式的样品台

 

 

T350S 是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析,同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。

 

产品性能

稳定性 : T350S有着良好的长期稳定性,不需要经常校准仪器。

无需制备样品 :无论是对镀层系统还是对固体和液体样品,仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。

综合性能 :镀层分析定性分析定量分析镀液分析统计功能

 

技术参数

测量元素范围

铝(Al)- 铀(U)

探测器

SDD

种类

固定型

固定种类大小

□ 0.5mm   □ 0.2mm

光路系统

垂直照射

放大倍数

光学 40-60×

显示模式

元素频谱显示

元素显示

标签图案显示

指标显示

显示元素及测量数値

摄像头

高清晰工业摄像头

放大功能

局部倍大

视窗大小

无级别式视窗大小

应用

单镀层,双镀层,合金镀层,电镀液

输入电压

AC220V±10% 50/60HZ

通讯方式

高速 USB 传输

温度控制

前置放大及机箱温度控制

外观尺寸

410*400*330mm

腔体尺寸

368*324*95mm

探测器道址

4096 道址

温度控制

自动前置放大温度控制

X 射线管

£大功率铍光管   £高精度微聚焦光管

高压

0-50kV(程控)

管电流

0-1mA(程控)

目标靶

W 靶

操作模式

高精度手动调节

位置控制

高精度 XY 轴定位

测试时间

10-40s

软件特性

FP 算法,自动判断故障及校正,自动补偿算法

 

应用领域

可用于电子元器件、半导体、PCB、FPC、LED 支架、汽车零部件、功能性电镀、装饰件、连接器、端子、卫浴洁具、首饰饰品多个行业表面镀层厚度的测量及材料分析,低成本、高效率。

 

电子行业

五金电镀行业

l确保元件可靠性,测量焊料合金成分和镀层厚度

l优化质量控制,确保产品生命期

如:分析导电性镀层金、钯厚度;测量电脑硬盘上的 NiP 层的厚度

l快速简单的分析,同时进行单层或多层镀层厚度测量和成分分析

l最多分析 4 层镀层

 

工作特点

²测量5层 (4层镀层+底材层)镀层,同时分析15种元素,自动修正X射线重叠谱线

²测量精度高、稳定性好,测量结果精确至uin

²快速无损测量,测量时间短,最快10s 内得出测量结果

²可分析固体、溶液;定性、半定量和定量分析

²材料鉴别和分类检测,材料和合金元素分析,元素光谱定性分析

²强大的数据统计、处理功能:平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值等

²结果输出:直接打印或一键导出到PDF、Excel 文件;报告包含数据、图像、统计图表、客户信息等

²测量位置预览功能;高分辨率彩色CCD样品观察系统,标准光学放大倍数为30 倍

²提供全球服务及技术支持

 

系统安全性

²简单用户界面只向日常操作员设定有限的授权

²主管人员可进行系统维护

²系统自动生成操作员的使用记录

²自动锁定功能防止未授权的操作

²样品室门开闭传感器

²X射线警示灯

²前面板安全钮

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